一種利用電容測量來無損地表征超硬聚晶結構內的一個或多個區域的方法、系統和設備。該設備包括具有正極和負極端子的電容測量裝置,包括聚晶結構的浸取的組件,第一導線,和第二導線。浸取的組件包括第一表面和相對的第二表面,第一導線將正極端子電耦接到浸取的組件的表面之一,第二導線將負極端子電耦接到浸取的組件的另一個表面。電容被測量一次或多次并與校準曲線進行比較以確定聚晶結構內的估計浸取深度。查明數據分散范圍以確定聚晶結構的相對孔隙率或聚晶結構內的浸取質量。
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