本發明涉及花椒產地和品種的快速無損檢測領域,特別是涉及一種基于SVM算法的花椒產地和品種的近紅外光譜識別領域,屬于花椒產地和品種的檢測領域。該方法詳細地說明了如何通過SVM算法建立分類模型,對花椒屬性進行定性分析。首先,對已知花椒屬性的樣品進行相應的處理,并對NIR儀器進行相應參數的調整;其次,對已經制備好的樣品,采集它的近紅外光譜圖,將光譜進行預處理;然后,對光譜圖進行分析計算;最后,將光譜數據作為SVM算法的輸入,通過粒子群算法(PSO)確立懲罰參數c和核函數參數g的最優參數組合,從而為構建最佳的分類模型提供一種方法,也最終為實現鑒別花椒產地和品種提供一種方法。
聲明:
“基于SVM算法的花椒產地和品種的近紅外光譜識別方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)