本實用新型公開了一種非接觸式測試裝置的升降機構,涉及無損檢測和測量設備領域,包括矩形框架、升降機構、旋轉機構,升降機構安裝在矩形框架上,旋轉機構設在矩形框架中;矩形框架包括兩條立柱、上橫梁、下橫梁、下底座;上橫梁、下橫梁兩端之間分別設有一立柱,兩條立柱、上橫梁、下橫梁、下底座組成矩形;立柱包括上立柱和下底座,上立柱底端和下底座連接,上立柱頂端與上橫梁連接,下底座底端與下橫梁連接。本實用新型通過各機構組成的檢測裝置,可保證成像的連續性和穩定性,裝置結構簡單,穩定性強,使用壽命長,便于拆卸、維修,性能穩定。
聲明:
“非接觸式測試裝置的升降機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)