本實用新型公開了一種用于芯片檢測的雙點激光顯微檢測裝置,屬于光學工程/無損檢測領域。包括雙路激光模組、轉接環、光學合路單元、紅外CCD、照明光源、顯微鏡、可調節支架、樣品臺、旋轉臺、X?Y位移臺和基座等。雙路激光模組由兩臺激光器組合而成,激光模組通過轉接環與光學合路單元鏈接并固定,模組中的兩路激光通過光學合路單元的整形、偏轉和合束后進入顯微鏡;顯微鏡和光學合路單元通過可調節固定支架組合,紅外CCD和照明光源分別與光學合路單元、顯微鏡連接,以提供所述裝置的顯微成像和照明功能;該實用新型通過實現雙路激光的整形、偏轉和調節,可進行芯片等微結構微器件的快速掃描、精確檢測。
聲明:
“用于芯片檢測的雙點激光顯微檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)