本發明涉及一種表征二氧化硅薄膜殘余應力的方法,包括下列步驟:獲得包含殘余應力的聲表面波理論計算模型;將二氧化硅樣片的密度、泊松比、厚度、彈性常數在內的參數代入理論計算模型中,得到不同殘余應力下表面波在二氧化硅薄膜中傳播的理論頻散曲線;二氧化硅薄膜樣片,控制激光器發射出一定頻率和能量的短脈沖激光束,經過光學調整系統最終在樣片表面匯聚成線性激光束,在樣片表面產生超聲表面波;表面波在樣片表面傳播一定距離后被壓電傳感器探測;對采集到的離散時域電壓信號進行包括傅立葉變換在內的數學處理,從而得到實驗頻散曲線;找出與實驗頻散曲線最匹配的理論頻散曲線,該曲線的殘余應力值即為所測二氧化硅薄膜樣片的殘余應力值。
聲明:
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