公開了使用自定義質量控制任務進行無損測試(NDT)的系統和方法。一種示例NDT系統包括以下中的至少一個:磁性顆粒檢驗裝置或滲透物測試裝置、用戶接口裝置、處理器,以及耦合到處理器并存儲機器可讀指令的存儲器。當被執行時,所述指令使所述處理器:訪問包括多個任務和對應的任務定義的質量驗證程序;基于所述多個任務的狀態顯示所述多個任務中的一個或多個;接收與所述多個任務中的一個或多個任務相關聯的一個或多個結果;存儲與所述磁性顆粒檢驗裝置或所述滲透物測試裝置相關聯的所述一個或多個結果;以及基于所述一個或多個結果控制所述磁性顆粒檢驗裝置或所述滲透物測試裝置的至少一個方面。
聲明:
“使用自定義質量控制任務進行無損測試的系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)