本發明公開了一種封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法,采用不同脈沖寬度的電磁脈沖串激勵及寬頻高靈敏度接收傳感器,對被檢封閉殼體部件外部進行周向及徑向掃描,獲取主動激勵/接收的電磁信息,重建被檢封閉部件外部的電磁場分布,與標準部件外部測得的電磁場分布進行比較,從而得到被檢封閉殼體部件內金屬成份及位置的變化情況,實現封閉殼體內金屬成份及位置的精確測量、快速定位。
聲明:
“封閉殼體內金屬成份及位置的無損測定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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