本發明提供一種LED光源結溫的無損實時測量方法,其包括如下步驟:S1、對待檢測的LED光源進行通電,將LED光源通電后發出的光束經光學元件后形成的光學成像投影到屏上;S2、建立LED光源中各LED芯片與光學成像之間的位置對應關系;S3、根據建立的對應關系,分別采集光學成像中各個位置的光束,對光束中LED芯片發出的光進行光譜分析,獲得包括對應位置的各LED芯片的光頻峰值、寬度信息;S4、建立光譜?溫度關系的標準曲線,結合標準曲線和獲得的光譜,確定LED光源中各LED芯片的結溫溫度。本發明能夠實時無損地對每個LED芯片的結溫進行測量,并根據測量結果對LED光源的質量、使用壽命作出評價。
聲明:
“LED光源結溫的無損實時測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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