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X射線(或 γ射線)無損檢查系統

785   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:56
本發明是一種利用X射線(或γ射線)進行無損檢查的系統,為克服已有X射線(或γ射線)無損檢查系統不能對被檢查的物件進行實時地影像分離的缺點,本發明包括:X射線(或γ射線)產生裝置、矩陣存貯裝置、整形裝置、第一和第二探測裝置、第一和第二轉換裝置、對數處理裝置、影像產生裝置和影像處理裝置。它主要用于對旅客行李檢查、郵政檢查、海關檢查、工業無損檢查和廢品回收中,能夠實時地對各種材料進行影像分離。
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“X射線(或 γ射線)無損檢查系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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