本發明涉及一種可檢測航發渦輪盤晶粒尺寸分布的超聲無損檢測方法,包括以下步驟:1)采用超聲檢測系統和水浸超聲聚焦探頭對航發渦輪盤鎳基高溫合金試塊掃查采集超聲背散射信號,并采用石英玻璃得到超聲參考信號;2)分別對超聲背散射信號和參考信號進行傅里葉變換得到頻域曲線;3)根據頻域曲線計算超聲背散射系數實驗曲線,并根據理論模型計算背散射系數理論曲線;4)將超聲背散射系數實驗和理論曲線在一定頻率范圍內擬合得到晶粒平均尺寸;5)將掃查區域分成若干小的方形區域,計算每個小的方形區域內的晶粒平均尺寸,得到晶粒尺寸二維分布圖像。本發明實現了航空發動機渦輪盤晶粒尺寸分布的二維快速成像,檢測精度高。
聲明:
“可檢測航發渦輪盤晶粒尺寸分布的超聲無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)