一種清潔系統,包括至少一清潔模塊,配置以在一化學機械研磨(CMP)制程之后接收一基板,并且使用一清潔溶液去除在基板上的多個污染物。清潔系統還包括一清潔溶液供給系統,配置以將清潔溶液供給到至少一清潔模塊。清潔溶液供給系統包括至少一溫度控制系統。至少一溫度控制系統包括:一加熱裝置,配置以加熱清潔溶液、一冷卻裝置,配置以冷卻清潔溶液、一溫度感應器,配置以監測清潔溶液的一溫度、以及一溫度控制器,配置以控制加熱裝置及冷卻裝置。
聲明:
“清潔系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)