本發明公開了一種測量聚電解質刷內部抗衡離子對的松弛行為的方法。所述方法包括如下步驟:通過化學反應將引發劑鍵接到金芯片上;通過自由基聚合的方法將單體化學接枝到金芯片上,得到帶有聚電解質刷的金芯片;將帶有聚電解質刷的金芯片置于樣品池中并用溶液浸泡;通過電化學工作站和石英晶體微天平電化學模塊的聯用,得在溶液中聚電解質刷內部抗衡離子對的松弛頻率。本發明采用聯用電化學工作站和石英晶體微天平電化學模塊的方法,通過在金芯片上接枝聚電解質刷,一方面可利用石英晶體微天平實時測量在不同氯化鈉溶液中聚電解質刷薄膜的質量和粘彈性的變化,另一方面也可利用電化學工作站同步測量在不同溶液中聚電解質刷內部抗衡離子對的松弛行為。
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