一種用于測量催化劑粉體活性位濃度的設備和方法,屬于催化劑表征的技術領域。本發明的特征是選擇性地測量暴露表面的具有催化活性的活性位濃度,而區別于測量催化劑粉體的總暴露原子濃度。測量使用表面物種濃度低于活性位濃度,而且使用小于1秒的短暫吸附時間,從而摒除了吸附較慢且不起任何催化作用的弱吸附位。測量結果具有更高精確度,原因是:(1)使用反應氣體在有反應的條件下進行測量,直接針對對反應氣體有催化作用的活性位;(2)活性位濃度用吸附速率的化學動力學公式推導,替代了以往用非動力學條件下測量的總表面積,因為總表面積不一定與吸附化學動力學公式中的活性位濃度相同。
聲明:
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