本發明是一種用于化學材料成份檢測的核磁共振成像方法。它包括下列步驟:選取檢測條件,設置受檢樣品,推衍化學成份像,利用計算機反演,分析材料結構與化學成份,繪制時間-化學位移圖和時間-成份圖。它利用核磁共振成像儀測量受檢樣品的核磁共振化學位移譜和弛豫譜,從而得到化學結構變化和分子之間的作用力關系;以化學位移作為化學成份像,進行成份相關性分析;用計算機進行反演,得到空間分布的化學結構譜分布圖和弛豫譜;通過軟件選取不同的化學位移成像,分析獲得材料結構與化學成份;繪制時間-化學位移圖和時間-成份圖,得到隨時間變化的化學位移譜圖和成份分布圖。本發明具有操作方便、成像準確、自動化程度高和分析數據可靠的優點。
聲明:
“用于化學材料成份檢測的核磁共振成像方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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