本發明公開了一種專門用于測試紅外觸摸屏抗光干擾性能的測試裝置及其測試方法,該測試裝置包括用于放置被檢測抗光干擾性能的紅外觸摸屏的測試平臺,用于發射可被紅外觸摸屏的紅外接收元件所接收的干擾光的模擬干擾光源,至少能夠調節干擾光的光強的光源控制單元以及用于調整干擾光射向紅外接收元件的入射角的旋轉構件。這種測試裝置可以模擬各種紅外觸摸屏的應用環境中的干擾光,無需去具體應用環境中進行抗光干擾性能檢測,極大的簡化了紅外觸摸屏抗光干擾性能的測試過程。
聲明:
“紅外觸摸屏抗光干擾性能的測試裝置及其測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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