硬件核心技術：高靈敏度X射線熒光光譜儀(HS XRF®)
1) 單色化激發
全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線管出射譜中靶材高強特征射線，從而消除了入射譜中散射線背景干擾，將譜線背景降低2個數量級。
2) 聚焦激發
單色化射線能量聚焦到樣品較小面，提升待測元素激發效率，SDD探測器可以接收更大立體角產生的元素射線，信號強度增加。
軟件核心技術：快速基本參數法(Fast FP®)
XRF元素定量難點：
1) 基體效應
2) 元素之間吸收-增強效應
3) 標準樣品欠缺
快速基本參數法通過對X射線熒光光譜從產生到探測的各個環節進行計算，將物理學明確的物理現象建立相應的數學模型和數據庫，基本參數法消除了由于不同類型樣品基體差異所產生的背景差異，減少分析誤差，通過少數標準品的校正即可得到元素精確定量分析結果。
土壤無機元素含量分析
應用概述：
近二十年來，隨著我國工業化、農業現代化、城鎮化的快速發展，土壤環境形勢發生了根本變化，土壤污染問題頻發，耕地土壤環境堪憂，對我國經濟社會發展帶來新的威脅和挑戰。
最新頒布的《GB15618-2018 土壤環境質量 農用地土壤環境污染風險管控標準》和《GB36600-2018土壤環境質量 建設用地土壤污染風險管控標準》將重金屬限值分為“風險篩選值”和“風險管制值”，這兩個限值與農產品質量安全直接相關，因此能夠準確分辨重金屬限值的分析儀器是滿足標準的基本要求。傳統XRF在土壤總鎘分析中面臨挑戰，檢出限難以達到限值要求，且在便攜性上無法滿足現場檢測的需求。由于土壤基體復雜性和地區差異性等因素，XRF若不借助有效算法，無法適應各種類型土壤重金屬元素分析需求。高靈敏度XRF重金屬分析儀PHECDA系列通過對鎘的單色化聚焦激發，降低背景和提升元素熒光強度，達到農用地鎘限量值檢測要求;快速基本參數法(Fast FP)消除由于土壤基體差異帶來背景差異，正確計算了元素間吸收-增強效應和譜線干擾，達到對土壤樣品的高準確度定量分析。
與ICP-MS測試數據一致性驗證實驗，砷和鉛相關系數均
聲明：
“高靈敏度XRF重金屬分析儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：袁經理
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2025年08月05日 ~ 07日 
