本發明提供提供了電子系統的剩余壽命評估方法、裝置和系統,其中,所述電子系統至少包括一個電子元器件,所述電子系統的剩余壽命評估方法包括如下步驟:S1,按照每個時間間隔采集所述電子系統的應力信息,并對一個時間段內的所述應力信息數據匯總以獲得應力因素;S2,基于應力因素和失效率算法獲得所述系統的每個元器件的失效率,從而計算系統的失效率;S3,基于系統失效率和系統平均無故障時間獲得所述系統的可靠性壽命,以獲得所述時間段內的系統累積損傷率;S4,基于所述系統的額定壽命或者疲勞壽命計算所述系統的剩余壽命。本發明可擴展性好,造價低,不僅能夠實時預測電子系統的剩余壽命,還能夠檢測電子系統工作中的意外情況。
聲明:
“元件、功能模塊和系統的剩余壽命評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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