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芯片微裂紋的片上探測方法及電路

1122   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:33
在芯片制造或加工過程中,芯片將不可避免地受到外力作用,可能產生微裂紋,但它們不能通過測試篩選出來,從而成為合格品。隨著芯片產品的運輸和使用,微裂紋可能導致芯片失效,或者導致芯片性能下降,進而影響芯片工作,甚至對系統產生損害。本發明提出了在芯片上集成微裂紋探測電路的方法及電路實現,可以根據芯片應用的需要對微裂紋探測電路輸出信號進行處理。
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