本發明提供了一種電子產品實時可靠性的預測方法基于貝葉斯方法和偽失效壽命,在更為恰當地估計先驗分布中的未知參數和選擇實時可靠性公式的基礎上計算出當前電子產品實時可靠性。首先運用曲線擬合推出n個偽失效壽命,再選擇正態分布來表示n個偽失效壽命數據的分布,接著借助時間序列樣本生成法,估計出分布中的未知時變參數均值μj0及方差σj0,得到先驗密度函數,然后根據現場數據xj可以更新時變參數并得到時變參數的后驗密度函數的均值μcj和方差σcj2,最后利用本發明設計的實時可靠性公式計算當前電子產品的實時可靠性。通過實驗驗證,本發明電子產品實時可靠性的預測方法對電子產品實時可靠性的預測精度高,能準確地對電子產品的實時可靠性進行預測。
聲明:
“電子產品實時可靠性的預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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