公開了一種基于極端梯度提升樹算法的電子器件剩余壽命預測方法,包括:獲得電子器件在相同條件下的多組老化數據;對多組老化數據進行預處理并結合電子器件失效機理獲得失效變量;對預處理后的老化數據進行變量之間的互相關系數計算,獲得與失效變量間關聯度不小于關聯閾值的特征變量;根據特征變量所對應的老化數據建立基于極端梯度提升樹算法的老化模型;根據老化模型獲得失效變量的預測變化值,并結合設定的失效閾值,獲得電子器件的剩余壽命。本申請的電子器件剩余壽命預測方法,采用基于極端梯度提升樹算法的老化模型處理電子器件特征變量所對應的老化數據,獲得失效變量的預測變化值得到剩余壽命的方法,預測精度高,泛化能力強。
聲明:
“基于極端梯度提升樹算法的電子器件剩余壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)