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基于ATE快速生成存儲芯片修復裝置及測試方法

906   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:18
一種基于ATE快速生成存儲芯片修復裝置及測試方法,該方法包括將待測存儲芯片鏈接到ATE測試機上;對待測存儲芯片發送測試波形,測試出待測存儲芯片的失效陣列,將失效陣列的數據存在ATE測試機上;ATE測試機發送信號通過第二通信單元和接口單元將失效陣列的數據發送給外設處理模塊的接口單元;運算單元以冗余陣列和失效陣列的數據作為輸入條件,運行修復算法以及計算得到修復方案,并控制第二通信單元和運算單元向ATE測試機傳輸修復方案;ATE測試機根據修復方案通過第一通信單元對待測存儲芯片發送修復波形,將標準成品陣列中失效陣列所承擔的功能映射到冗余陣列中去完成,以實現待測存儲芯片的修復。因此,本發明節省了測試時間和測試成本。
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“基于ATE快速生成存儲芯片修復裝置及測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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