本發明提供一種測試不良芯片晶元坐標分布的方法,包括以下步驟:S1:根據作業歷史獲得所有良品單元的芯片ID;S2:將所有芯片ID按照晶元ID進行篩選;S3:導入單張晶元的所有芯片ID根據Excel公式=Count A_A自動繪制坐標圖;S4:將繪制的坐標圖與系統實際的坐標圖進行比對;S5:兩者相差的坐標,獲得需要的不良芯片的坐標。本發明方法簡單,操作便利,可以通過推導出來的芯片ID進行失效原因分析。
聲明:
“測試不良芯片晶元坐標分布的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)