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測試不良芯片晶元坐標分布的方法

842   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 09:00:14
本發明提供一種測試不良芯片晶元坐標分布的方法,包括以下步驟:S1:根據作業歷史獲得所有良品單元的芯片ID;S2:將所有芯片ID按照晶元ID進行篩選;S3:導入單張晶元的所有芯片ID根據Excel公式=Count A_A自動繪制坐標圖;S4:將繪制的坐標圖與系統實際的坐標圖進行比對;S5:兩者相差的坐標,獲得需要的不良芯片的坐標。本發明方法簡單,操作便利,可以通過推導出來的芯片ID進行失效原因分析。
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