一種芯片測試參數異常的偵測方法、存儲介質、終端,所述方法包括:獲取當前批次芯片的第一測試參數;根據所述第一測試參數計算所述當前批次芯片的邊緣芯片比例,其中,所述邊緣芯片比例為所述當前批次芯片中邊緣芯片的占比,所述邊緣芯片是所述第一測試參數的數值落入合格范圍但超出邊緣范圍的芯片;當所述邊緣芯片比例與基準邊緣芯片比例之差大于第一預設提示值時,確定偵測到芯片測試參數異常,其中,所述基準邊緣芯片比例與所述預設測試項相對應。通過本發明方案能夠實現對芯片測試參數異常的自動偵測和推送,以在實際出現Bin失效前,提前預警芯片可靠性問題以及生產工藝和測試環節可能存在的問題。
聲明:
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