本發明所屬的測試裝置具備:圖樣產生器,其產生一種供給至多個被測試存儲器中的位址信號和數據信號以及產生一種期待值信號;多個邏輯比較器,其在多個被測試存儲器所輸出的輸出信號和該期待值信號不一致時產生一種失效數據;多個失效存儲器,其儲存著多個邏輯比較器所產生的失效數據;多個存儲器控制器,其依據多個失效存儲器所儲存的失效數據以產生被測試存儲器的不良位址顯示用的不良位址資訊;多個通用緩沖存儲器,其儲存著多個存儲器控制器所產生的不良位址資訊;以及多個不良資訊寫入部,其將不良資訊同時寫入至多個被測試裝置的多個通用緩沖存儲器中所儲存的不良位址資訊所示的不良位址中。
聲明:
“測試裝置與測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)