一種閃存類電子產品的壽命預測方法包括如下步驟:(1)對產品失效模式等失效信息和產品結構、工藝等器件信息進行分析,確定潛在失效機理及其失效物理模型;(2)確定影響失效機理的環境應力;(3)確定失效物理模型中的相關參數;(4)對產品實際經歷的環境應力進行監測和記錄;(5)將環境應力變化區間劃分成合適的小區間,并統計各個小區間內的產品經歷時間;(6)利用失效物理模型分別計算不同應力水平下的預計失效前時間;(7)分別計算產品在每個應力水平下由于不同失效機理造成的壽命損傷;(8)分別計算產品由于不同失效機理造成的壽命累積損傷;(9)預測不同失效機理下的產品剩余壽命;(10)預測整個產品的剩余壽命。
聲明:
“閃存類電子產品的壽命預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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