本申請公開了一種存儲器的檢測系統、方法及芯片。本申請在檢測系統設置檢測控制模塊,用于在與檢測系統連接的內建自測試模塊上電后,然后利用檢測控制模塊監聽測試事件,并向測試訪問端口控制器提供測試數據,測試訪問端口控制器將測試數據通過相應的測試管腳輸入內建自測試模塊,以使內建自測試模塊利用測試數據對存儲器進行自動檢測,相比現有技術,不再需要人工配置大量的測試策略,節省了測試流程,同時對存儲器進行自動測試有效降低了存儲器失效的幾率,規避了芯片在使用上的風險。另外通過自動測試還能夠快速排除存儲器出錯導致的功能無法正常使用的情況,降低了芯片的損耗。
聲明:
“存儲器的檢測系統、方法及芯片” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)