本發明公開一種觸摸屏成像的檢測方法;解決的問題針對現有電容式觸摸屏的功能片主要是依靠對ITO鍍層進行圖案設計從而實現觸控功能,該ITO鍍層在加工制作或者客戶使用不當過程中容易造成損壞,在以往的失效分析過程中,在不破壞產品的情況下,分析止步于位置判定,不能對圖形原像進行清晰呈現,降低分析效率和數據統計水平的技術問題。采取方案檢測方法包括步驟1、將觸摸屏置于貼合臺面上;2、在蓋板上全覆蓋抗環境光干擾材料層;3、取出觸摸屏;4、將觸摸屏置于顯微鏡臺面上;5、環境光進入觸摸屏;6、成像。優點加強對觸摸電容屏ITO層的原像對比,減少對顯微鏡儀器技術發展的依賴,降低檢測成本,滿足電容屏行業技術發展需求。
聲明:
“觸摸屏成像的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)