本發明公開了一種宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系統,其中,該方法包括:根據宇航用SiP器件的組成結構,對宇航用SiP器件的各個模塊進行層次定義;對宇航用SiP器件的各個模塊進行潛在失效模式分析,確定宇航用SiP器件的各組成模塊存在的潛在失效模式;對各潛在失效模式進行失效原因和機理分析,得到第一分析結果;對各潛在失效模式進行故障影響和嚴酷度分析,得到第二分析結果;根據第一分析結果和第二分析結果,輸出FMEA分析結果表。本發明提供了一種適合宇航級SiP器件應用的FMEA分析方法。通過對SiP進行單元分解,并對每一潛在故障模式進行分析,從而得到該款器件的FMEA的分析結論,為元器件質量保證工作提供了有效的技術支撐。
聲明:
“宇航用SiP器件的FMEA分析方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)