本發明公開了一種擦失效存儲單元的替換方法、裝置、設備及存儲介質,接收外部測試機的擦操作指令,存儲芯片內部對block依次執行預編程校驗、擦除校驗和軟編程校驗,若在上述校驗中出現校驗失敗,則相應執行判斷或者替換操作,最后向外部測試機報告測試結果;由于測試機不再進行查找、計算、判斷和替換,計算量大大下降,從而降低了對測試機的性能需求,另外,由于失效存儲單元的判斷轉由存儲芯片內部完成,不依靠外部測試機的read判斷,因此也提高了測試的準確度。
聲明:
“擦失效存儲單元的替換方法、裝置、設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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