合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 失效分析技術

> 激光器芯片失效定位分析樣品制備方法及中間件

激光器芯片失效定位分析樣品制備方法及中間件

826   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:59:30
本發明涉及一種激光器芯片失效定位分析樣品制備方法及中間件。該方法及中間件連帶熱沉一同取下,在芯片周圍粘接墊腳用作保護,通過研磨的方式去掉熱沉,持續研磨去除襯底處金層,至芯片襯底完全露出,適用于多種封裝形式的半導體激光器芯片,也適用于不同材料體系的如ⅢⅤ族、ⅡⅥ族、硅基的半導體激光器芯片,該方法可直接對百um量級微小易碎的激光器芯片進行制樣,無需采用各種精密的微納米加工設備。注重對樣品保護,可有效避免在失效樣品取樣過程中或制樣過程中的樣品損傷。制樣完成后探測點在同一平面上,便于加電測試。采用的可清洗粘接劑,樣品可取出,利于后續其他分析。
登錄解鎖全文
聲明:
“激光器芯片失效定位分析樣品制備方法及中間件” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
失效分析
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX