本發明提供了一種基于超聲相控陣成像的缺陷分類方法及系統,屬于無損檢測領域,方法包括:對待測樣件采用超聲相控陣成像獲取超聲全矩陣數據;對超聲全矩陣數據進行全聚焦處理,根據信號幅值進行色彩編碼,獲取待測樣件的圖像;對待測樣件的圖像進行預處理后輸入至分類預測模型中,獲取待測樣件的缺陷分類;訓練分類預測模型的方法為:利用缺陷超聲散射數據有限元仿真方法,通過仿真超聲相控陣成像獲取仿真數據;對仿真數據進行全聚焦處理后,獲取仿真圖像;對仿真圖像預處理后進行數據增強;采用卷積神經網絡對仿真圖像進行圖像特征提??;將圖像特征輸入至全連接層,以缺陷分類為輸出訓練分類預測模型。本發明提升了缺陷分類的精準度。
聲明:
“基于超聲相控陣成像的缺陷分類方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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