本發明公開了一種微波器件測試用壓緊裝置,涉及半導體器件測試工具技術領域。包括壓塊和通過壓塊上的螺釘孔能與測試平臺緊固的螺釘,所述壓塊絕緣材料構成,壓塊底面設有微波器件端腳壓緊凸起和微波器件適配的器件凹槽。本發明能夠保證微波器件在測試過程中與微帶線始終壓緊,保證微波器件測試的穩定性和準確性,以及微波器件的無損性,本發明結構簡單、成本低廉、通用性強、易于實現,保證了相關科研生產順利進行。
聲明:
“微波器件測試用壓緊裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)