本發明涉及一種基于超聲波的物體測厚方法、裝置、系統、設備及介質,其包括獲取超聲波在目標被測物中傳播后的一次回波時間和二次回波時間,所述目標被測物為目標被測材料覆有覆蓋物的被測物或目標被測材料未覆有覆蓋物的被測物;根據所述一次回波時間和二次回波時間的時間差,以及預設的超聲波在目標被測材料中的傳播速度,確定所述目標被測材料的厚度。本發明能夠消除涂層影響,準確測量物體厚度,真正做到無損檢測。
聲明:
“基于超聲波的物體測厚方法、裝置、系統、設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)