本發明公開一種集成電路測試負載板與測試設備輔助插拔機構,包括外箱、檢測機構、輸送機構和收納機構;所述檢測機構設置在所述外箱的內部,所述輸送機構貫穿設置于所述外箱的內部和外部,所述收納機構插設在所述外箱的內部;本發明,通過設置檢測機構,使本裝置可以連續不停息的對集成電路進行無損檢測,解決了現有技術中對集成電路檢測不夠高效的問題;通過設置輸送機構,使工作人員不需要用力就可以將集成電路放置到本裝置上,能夠防止工作人員由于手法問題對集成電路造成破壞,并且當檢測到集成電路不合格時,控制器會控制伸縮板收縮,使不合格的集成電路自動落出,方便了檢測過程,降低了不合格出廠率。
聲明:
“集成電路測試負載板與測試設備輔助插拔機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)