本發明公開了太赫茲瞬態熱成像檢測和層析成像系統及方法。系統由控制模塊、太赫茲光源、太赫茲鏡片組、熱像儀、計算機及多個算法模塊等組成。采用脈沖或連續太赫茲光束對被檢對象進行加熱,采用熱像儀記錄被檢對象表面的瞬態溫度信號。對不同時刻的熱像圖進行空間導數變換,檢測淺層缺陷;對瞬態溫度信號和參考信號進行差分、一階求導、二階求導和傅里葉變換等處理,提取最大值時間、峰值時間、分離時間、分離頻率、峰值頻率等作為特征值;采用特征值進行成像顯示,實現缺陷檢測;建立特征值與深度的定量關系,對未知缺陷的深度進行定量;利用不同時間范圍的溫度變化率,實現不同深度范圍的層析成像。該發明可應用于無損檢測、醫學成像等領域。
聲明:
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