本發明公開了一種便捷化鈦陽極涂層厚度檢測及其均一性可視化方法,其特征在于,包括如下步驟:S1:對待檢測的鈦陽極進行清洗處理,并使其保持干燥表面;S2:用手持式XRF測試步驟S1處理后的陽極,橫縱方向上分別定距定點測量;S3:將步驟S2得到的數據存為矩陣,使用軟件對數據進行插值擬合,然后繪制3D等高線圖示,可直觀判斷整個陽極表面涂層厚度的分布情況。本發明提供的便捷化鈦陽極涂層厚度檢測及其均一性可視化方法,快速得到了陽極表面涂層信息,及時反饋生產,保證產品質量;技術人員可對失效陽極進行無損化的分析研究,適時改進工藝技術,提升產品競爭力。
聲明:
“便捷化鈦陽極涂層厚度檢測及其均一性可視化方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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