本發明屬于一種檢測分析方法,具體涉及一種針對高功率半導體激光器及陣列激光器的質量和可靠性進行檢測和篩選的方法。首先測出激光器V-I和P-I曲線,經計算機處理得到電導數曲線IdV/dI~I和光導數曲線dP/dI~I、d2P/dI2~I,然后從光導數曲線d2P/dI2~I或電導數曲線IdV/dI~I得到被測器件的閾值電流Ith,從而得到b、m、Rs1、Rs2、h各參數,再由二階光導數曲線閾值處的峰高H,峰寬W,峰高峰寬之比Q給出激光器激射時的光特征;最后將所得的各參數與同種結構的器件參數的正常值相比較,從而判定所檢測的高功率半導體激光器或陣列激光器的質量和可靠性。本發明方法對器件的篩選具有無損快速簡便的特點,適合于廣泛使用。
聲明:
“高功率半導體激光器可靠性檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)