IGBT低頻噪聲檢測裝置,涉及電子測量技術領域,解決現有電子器件可靠性檢測中對器件的損傷問題,整體系統包含硬件測試系統和軟件分析平臺兩個部分。硬件系統包含電源系統、低噪聲偏置電路、低噪聲前置放大器及高速數據采集卡四個部分模塊;軟件分析平臺分為時域分析模塊、頻域分析模塊、數據存儲模塊、數據讀取模塊、信號采集模塊和報告生成模塊。其中的硬件系統主要完成IGBT漏極電壓噪聲的測量,軟件平臺主要完成低頻噪聲數據的時間序列的顯示,并對高速數據采集卡得到的噪聲數據完成頻譜分析,最終實現IGBT器件的低頻噪聲的檢測。本發明可避免傳統電子器件可靠性檢測中對器件噪聲的不可逆損傷,實現對IGBT低頻噪聲的無損檢測。
聲明:
“IGBT低頻噪聲檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)