本發明公開了一種貴金屬制品的快速檢測方法,本發明是一種貴金屬制品的快速檢測方法采用X射線熒光光譜儀檢測被測樣品表層的主要成分及成分含量初步判斷被測樣品是否合格,再進一步的利用超聲波測厚儀對被測樣品進行檢測,通過超聲波測厚儀發出的超聲波脈沖到達被測樣品的第一個物質界面并反射回超聲波測厚儀所消耗的時間,以計算出被測樣品測試點與第一個物質界面之間的厚度值d2,與游標卡尺測得的被測樣品的厚度值進行比較,若滿足|d2/d1?1|*100%≤5%,即可判斷被測樣品合格。本方法可無損、快速、準確、便捷的檢測出被測樣品是否合格,對于大型檢驗中心在檢驗任務較多的情況下,可大大提高工作效率,減低成本。
聲明:
“貴金屬制品的快速檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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