本發明公開了一種電子器件可靠性的檢測方法及系統,該方法包括建立電子器件的環境敏感參數與性能參數偏移量之間的預測模型,測量所述電子器件的環境敏感參數,根據所述電子器件的環境敏感參數測量值和所述預測模型預測所述電子器件的性能參數偏移量,由所述性能參數偏移量確定所述電子器件的可靠性,通過以上技術方案,能夠實現快速無損地對電子器件進行逐個檢測。
聲明:
“電子器件可靠性的檢測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)