本發明公開了一種超導基帶表面缺陷檢測系統,包括,光源,其輸出激光并照射至超導基帶的待檢測表面;圖像采集單元,其連續采集激光被待檢測表面反射后的反射光圖像;圖像處理單元,其接收圖像采集單元輸出的反射光圖像,對所述反射光圖像進行處理,輸出超導基帶的表面缺陷程度。本發明的超導基帶表面缺陷檢測系統,用于超導基帶拋光前后對其進行表面缺陷程度的非接觸式無損傷、在線、長距離、連續檢測,為下道生產工藝提供可靠的基帶表面質量報告,提高生產高溫超導帶材的合格率;同時,還可以用于確定原帶質量對拋光效果的影響。
聲明:
“超導基帶表面缺陷檢測系統及其檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)