本發明屬于超聲波無損檢測和粗晶材料或焊縫的檢測技術領域,具體地說,涉及一種雙陣列超聲成像檢測方法及檢測裝置,該方法包括:將第一超聲換能器陣列和第二超聲換能器陣列選取特定的耦合方式進行耦合,并相對對稱放置在待測工件的兩側,記錄待測工件分別與上述兩個換能器陣列的相對位置;針對第一超聲換能器陣列和第二超聲換能器陣列,采用不同的全矩陣發射接收模式,向待測工件發射超聲波,獲得不同的全矩陣數據體,再結合全聚焦成像方法,獲得全聚焦成像幅值,并進行歸一化處理,獲得成像檢測結果;根據成像檢測結果,判定待測工件中是否有缺陷。
聲明:
“雙陣列超聲成像檢測方法及檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)