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短波長特征X射線內部殘余應力無損測試方法

990   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:59
本發明公開了一種短波長特征X射線內部殘余應力無損測試方法,X射線源和探測器分布在樣品的兩側,光路為透射式,在測量時,通過轉動歐拉環以改變Ψ角,測試不同Ψ角下的衍射角2θ,通過擬合衍射角2θ?sin2Ψ值計算得到測試樣品內部的殘余應力,測試時試樣轉動平面與探測器轉動平面相互垂直。
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“短波長特征X射線內部殘余應力無損測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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