本發明屬于微波無損測量領域,提供一種基于開口矩形波導的介質復介電常數無損反射測量方法;本發明采用將待測介質板遠離輻射口徑面的方式,減弱待測介質板復介電常數以及尺寸的變化對波導輻射口徑面不連續處的高次模反射場分布的影響,在特定距離范圍內可認定高次模反射場分布近似不變,進而通過對已知介電常數介質板反射系數的測量,實現對單模分析方法誤差的校準,本發明僅僅考慮波導輻射口徑面主模傳輸就能夠得到準確的結果,計算過程更加簡單,大大減少運算量;且由于開口矩形波導無需緊貼待測介質,也可實現介質復介電常數的非接觸測量,有著更加廣闊的應用前景。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)