合肥金星智控科技股份有限公司
宣傳

位置:中冶有色 >

有色技術頻道 >

> 無損檢測技術

> 半導體摻雜層厚度無損檢測方法

半導體摻雜層厚度無損檢測方法

1136   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:42
本發明涉及一種外延層厚度無損檢測方法,包括:獲得外延層的摻雜濃度;獲得反向偏置電壓值V:使用探針與外延層接觸,形成肖特基結,并對肖特基結施加逐步增大的反向偏置電壓,記錄下電流出現明顯變化時的反向偏置電壓值V;根據公式進行計算,得到d值即為外延層厚度。本發明所述外延層厚度無損檢測方法,對于厚度在5微米以下的外延層,厚度檢測精度為0.01微米,且最小的檢測厚度為0.1微米,極大促進了外延層檢測技術的拓展和準確性,具有高精度、無損檢測的優勢。
登錄解鎖全文
聲明:
“半導體摻雜層厚度無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
分享 0
         
舉報 0
收藏 0
反對 0
點贊 0
標簽:
無損檢測
全國熱門有色金屬技術推薦
展開更多 +

 

中冶有色技術平臺

最新更新技術

報名參會
更多+

報告下載

赤泥綜合利用研究報告2025
推廣

熱門技術
更多+

衡水宏運壓濾機有限公司
宣傳
環磨科技控股(集團)有限公司
宣傳

發布

在線客服

公眾號

電話

頂部
咨詢電話:
010-88793500-807
專利人/作者信息登記
在线精品视频播放|无码 有码 国产18p|宅男精品一区在线观看|伊人色综合久久天天人手人婷|亚洲熟肥妇女BBXX