本發明公開了一種羥自由基原位測量系統,所述測量系統包括光源、準直偏振光組件、光化學反應艙、偏振光轉換組件以及檢測裝置,其中,所述光化學反應艙具有腔體、位于所述腔體內光學多通池以及位于所述腔體外側的磁體,在所述光學多通池與所述外磁體之間環設有多個紫外燈;所述光化學反應艙上設有進樣管以及排氣管;光源的光線經過準直偏振光組件形成準直偏振光,入射準直偏振光通過所述光學多通池的多次反射后,出射光再經所述偏振光轉換組件處理后,經所述檢測裝置轉化為檢測信號。本發明的羥自由基原位測量系統使用2.8um中紅外光譜技術,避免HO2自由基以及紫外光源帶來的次生OH自由基干擾,避免了化學方法中化學反應競爭干擾。 1
聲明:
“羥自由基原位測量系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)