本發明涉及一種用于定位電化學存儲器(165)中的缺陷的方法。該方法包括對電化學存儲器(165)的部分區域(145、150、155、160、170)調溫以便提高所述部分區域(145、150、155、160、170)的內部壓力的步驟;檢測測量值的步驟,所述測量值代表響應于所述部分區域(145、150、155、160、170)的提高的內部壓力而進行的成分從所述部分區域(145、150、155、160、170)的逸出;和當所述測量值與比較值有預定的關系時定位所述部分區域(145、150、155、160、170)中的缺陷的步驟。
聲明:
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