本公開提供了一種基于電化學參數的葡萄糖傳感器的出廠校準方法,其包括:獲取同一批次出廠的、相同工藝下制備的多個葡萄糖傳感器;從多個葡萄糖傳感器選取至少一個葡萄糖傳感器作為傳感器樣品,對傳感器樣品進行分析測試,獲取傳感器樣品的電流隨葡萄糖濃度變化的變化曲線以及靈敏度的衰減曲線;基于變化曲線和衰減曲線生成傳感器樣品的補償模型;并且將補償模型嵌入到多個葡萄糖傳感器以實現對多個葡萄糖傳感器的自動校準。在本公開所涉及的葡萄糖傳感器的出廠校準方法中,能夠基于變化曲線和衰減曲線生成補償模型,葡萄糖傳感器能夠通過嵌入的補償模型對自身進行不斷的矯正,由此,能夠實現傳感器的自動校準。
聲明:
“基于電化學參數的葡萄糖傳感器的出廠校準方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)