本發明涉及一種沉積巖Os初始值的分析方法,屬于同位素地球化學分析技術領域,解決了現有技術中獲取沉積巖Os初始值耗時久、成功率低、分析測試成本高的問題。該分析方法,包括以下步驟:沉積巖樣品采集;制作巖石薄片;在巖石薄片上建立直角坐標系,在掃描電子顯微鏡的背散射圖像下確定分析目標所處象限和直角坐標,對巖石薄片分析目標定位;根據直角坐標系、分析目標所處象限和分析目標的直角坐標在LA?MC?ICP?MS光學鏡頭下再次確定分析目標的位置,進行LA?MC?ICP?MS激光原位剝蝕自生黃鐵礦Os同位素測試,測得M/Z185、M/Z187、M/Z188信號數據;對所述信號數據進行處理,得到沉積巖Os初始值。利用該方法能夠直接、快速地獲得沉積巖中的Os初始值。
聲明:
“沉積巖Os初始值的分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)