本發明公開了一種利用X射線熒光光譜分析鈦白粉中TiO2含量的方法,該方法包括:(1)提供鈦白粉標準樣品;(2)采用化學滴定法和X射線熒光光譜法分別測試所述鈦白粉標準樣品中二氧化鈦及包膜物和雜質元素的含量,并且基于所述化學滴定法和所述X射線熒光光譜法所得數據建立X射線熒光光譜法標準曲線;(3)采用X射線熒光光譜法,并且基于所述X射線熒光光譜法標準曲線測定鈦白粉待測樣品中二氧化鈦含量。該方法可使得利用X射線熒光光譜分析鈦白粉中TiO2的含量的操作過程更加簡單易行。
聲明:
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